Слаботочка Книги

0 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 [20] 21 22 23 24 25 26 27 28 29 30 31 32 33 34 35 36

нивать основной и дополнительной составляющими случайной погрешности.

Нормальными условиями испытания тензорезнсторов по ГОСТ 21616-76 являются: температура окружающей среды (25±10)°С; относительная влажность (65±15)%; атмосферное давление (101±3,3)кПа. Тогда за основную погрешность (в нормальных условиях) можно принять суммарную погрешность измерения, определяемую в этих условиях по составляющим (см. табл. 18). В общем виде основная погрешность будет определяться как

Део=0,ОШо.5е-

До,5

<PtK

+ (3-1: +№+5n)eM0-4J

(115)

В технических условиях на конкретные типы тензорезнсторов следует оценивать каждый член и в случае его малости из формулы (115) исключить.

Для большинства тензорезнсторов, характеристики которых приведены в настоящей работе, погрешности от функции влияния температзфы на чувствительность и от дрейфа при нормальных условиях будут малы и их можно в уравнение (115) не вводить. Кроме того, следует отметить, что хотя составляющая Основной погрешности от производной температурной характеристики сопротивления (ТХС) и будет вносить заметный вклад [а иногда при больших значениях производной d(25)/df будет определяющей в значении Де], однако она в значительнее степени зависит от материала детали, на которую установлен тензорезистор, и ее целесообразно отнести к дополнительной погрешности и в уравнение (115) также не вводить. Составляющую же погрешность от ТХС в основной погрешности тензорезнстора предлагается оценивать как в случае схемной компенсации (при /и=0), когда (см. табл. 18)

\ ЗК

Основная погрешность тензорезнстора как средства измерения деформаций может быть записана в виде

Д8о=0,ОШо,5е ±XsX X /[J+Ul-lO~*i-SUO*+[ ЮО). (116)

Тип теизорезистора

п, %

Sn.%

K,t, мли-ГС

Двц, млн-1

1-П, 1-Пн,

-0,2

0,06

1-ПБ

-0,5

ЦНК-3

-0,1

-0,3

Ч-39

ЗСПК

-0,6

ЗСПН

-0,7

Для некоторых типов тензорезнсторов основная погрешность, рассчитанная по формуле (116) при е=1000 млн-, приведена в табл. 19. Там же приведены нормируемые параметры, используемые при расчете, где было принято, что По,5 = 0,7П1, По.з=0,5П1. Коэффициент К в нормативном документе по оценке погрешности измерения деформаций проволочными и фольговыми тензорезисторами [52] для Р=0,95 принят равным 2.

Как видно из табл. 19, у этих типов тензорезнсторов основная погрешность определяется, главным образом, рассеянием чувствительности в партии.

Дополнительная погрешность Двд будет зависеть в рабочих условиях измерения от дополнительных составляющих частных погрешностей, не вошедших в Аго-

Суммарная погрешность средств измерения в рабочих условиях эксплуатации

As =М [Део] + М [AsJ + X ]с1Л,-

4. ЭКСПЕРИМЕНТАЛЬНАЯ ПРОВЕРКА РАСЧЕТНЫХ ЗНАЧЕНИИ

ПОГРЕШНОСТИ

Проверка расчетных формул была проведена путем сравнения расчетных и экспериментальных значений погрешности при измерении деформаций тензорезисторами ВТК в условиях воспроизведения действительных процессов измерения при температурах до 400С.

Тензорезисторы ВТК с чувствительной решеткой из константана фирмы «Драйвер Харрис» и со связующим из высокотемпературного цемента Ц-10 разработаны для измерения статических деформаций при постоянных и переменных температурах до 400С в течение 3 ч. Характеристики, определенные при различных температурах на выборках, взятых из той же



Темпер тура,

млн-</°С

Sf, млн-1

una-i/°C

1,98

1,98

0,34

1,98

партии исследуемых тензорезисторов, приведены в табл. 20, параметры температурной характеристики сопротивления указаны при установке тензорезисторов на балку из стали 1Х18Н9Т.

На основе данных табл. 20 можно принять, что Фг=1.

Экспериментальное определение погрешности при измерении деформаций Де в условиях, воспроизводящих действительные условия измерения деформаций при повышенных температурах, проводилось путем сравнения значений заданной деформации, измеренной в этих условиях с помощью тензорезисторов ВТК (бт) и механическим методом (ем) по измерению прогиба балкн с помощью индикатора, т. е.

Де=(е е„)/е„.

Для этого исследуемые тензорезисторы наклеивались на шар-нирно-опорную балку из стали 12Х18Н9Т установки ПТ-2 [24], нагружаемую по схеме чистого изгиба. В этом случае

Sm=4

(/p-/o).

где Л -толщина балки; /о и /р -прогибы ненагруженной и нагруженной балки при Р=0 и P=Ptnix. соответственно и при заданной температуре; L - длина балки.

Установка ПТ-2 позволяет осуществлять нагрев до 400°С в течение примерно 1-2 ч и быстрое (в течение 2-3 мин) и медленное (30-60 мин) нагружения балки.

Балки и установка ПТ-2 проходили метрологическую аттестацию. Отклонения в ширине b и толщине h по длине рабочей части балки не превышали допустимых пределов ДЬ = = ±0,5% и ДЛ=±0,2%, и деформация балки на всей рабочей части была принята одинаковой. Точность измерения заданной деформации е" при всех температурах до 400°С оценивалась погрешностью ±1,5%. Деформации ет балки измерялись при постоянных температурах с использованием схемной компенсации и без нее, а при переменных температурах-с использованием схемной компенсации или с применением ме-

тода внесения поправки на температурную характеристику сопротивления. Точность измерения температуры в последнем случае оценивалась предельным значением Дп=±2°С. Вовремя, прошедшее между измерением /о и /р, которое длилось от 2-3 до 60 мин, заданная температура оставалась постоянной в пределах Д=±3С.

При оценке расчетных Дерас значений погрешностей измерения деформаций учитывались составляющие Д- от рассеяния чувствительности, от максимальных в выборке значений ползучести (считая их предельным значением неисключенного остатка систематической погрешности и принимая £>п ==Птах) и от температурной характеристики сопротивления. Погрешности от дрейфа выходного сигнала тензорезистора при расчете Дерас не учитывались в связи с недостаточной изученностью этой характеристики у тензорезисторов ВТК- При расчете во всех случаях значения %=2.

При постоянной температуре и применении схемной компенсации измеренная деформация ет определялась по характеристике преобразования

(?р-?о)а

а расчетное значение Дерас погрешности измерения деформа-

ций - по формуле

У2а:/ДМооо

При схемной компенсации тензорезисторы, наклеенные на балку друг под другом (растягиваемые и сжимаемые), соединялись в полумост, т. е. т=-1. Заданная деформация ез принята равной 1500 млн-. Подставляя в формулу (117) .эти значения и приведенные в табл. 20 параметры тензорезисторов ВТК, а также значения Д/, получаем, что прн 400°С -Дерао = =±4,6%.

Экспериментальные значения погрешностей Де для девяти пар тензорезисторов ВТК при этих температурах и различном времени нагружения приведены на рис. 61, откуда следует, что максимальные значения экспериментально определенных погрешностей при всех нагружениях (26 реализаций) не превышали Детах =4,9%; это согласуется с предельным расчетным значением погрешности.

При измерении в условиях постоянной температуры без схемной компенсации (единичные тензорезисторы) характеристика преобразования для определения измеренной деформации будет



hi,,,

is,,


i S 7 Э till IS 1113


1 5 7 3 If fJtSniS

2 6 8 mt2n 161820 Номера пар тензорезисторов

1 ЦЭи 13151Ш 1 6 810 Z 1161820

Рнс. 61. Экспериментальные значения погрешности измерения деформации тензорезнсторамн ВТК прн нспользованнн схемной компенсации в условиях постоянных температур (400°С):

а - в - время нагружения 2, 35 и 60 мни соответственно

а расчетная погрешность определяется как

Ас=±

(Х5,)НПша.+

Расчетные значения погрешности в этом случае при 400С оценивались как Аерас ==7,5%.

Экспериментальные значения погрешности, измеренные десятью тензорезисторами ВТК (рис. 62), при всех 50 реализациях в условиях нагружения за 3-35 мин только в двух случаях (Де,=8,5% и Дег = 8,0%) превысили расчетное значение погрешности. При времени нагружения, равном 55 мин, экспериментальная погрешность при 400С увеличивается еще у двух тензорезисторов, доходя до 8,5-10%, что связано с влиянием температурного дрейфа тензорезисторов, который не учитывался при расчетах.

При переменной температуре и схемной компенсации характеристика преобразования

где фн - начальный отсчет при начальной температуре t«, а расчетное значение погрешности

Дс=±[/

(>.5,)2 + nLx +

В этом случае при переменной температуре от f„ = 20°C до /=400°С расчетные значения погрешности равны Дерас = = 7,6%.

Экспериментальные значения погрешности измерения деформаций, полученные девятью парами тензорезисторов ВТК

-<

j 4 (

? 10111213 И

3 4 6 7 8 3 1011121314 Номера тензорезисторов


3 4 6 7 8 3 1011121314

34 6 7 8 31011121314 34 6 7 8 3 1011121314 Номера тензорезисторов г) д)

Рис. 62. Экспериментальные значения погрешности измерения деформаций тензорезнсторамн ВТК без схемной компенсации при постоянной температуре 400°С и различном времени нагружения, мнн:

а - в - Ъ; г, а -25 и 55

при переменной температуре от 20 до 400.С, при различном времени нагружения (2-60 мин) и времени прогрева (40- 170 мин) при 400С не превышали 8% (рис. 63), что хорошо согласуется с расчетными значениями и указывает на компенсацию температурного дрейфа, не учитываемого при расчетах.

При переменной температуре и использовании метода внесения поправки на температурную характеристику сопротивления характеристика преобразования имеет вид:

t = -7;IS-(S.-S/h)],

а расчетные значения погрешности оцениваются как

(t-t„) 4K4>i

(118)

Значения погрешностей, рассчитанных по формуле (118), т. е. без учета влияния дрейфа выходного сигнала, составляют: Дерас 1 = 10,2% при изменении температуры от /н=20° до t= =400°С.




0 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 [20] 21 22 23 24 25 26 27 28 29 30 31 32 33 34 35 36
Яндекс.Метрика